Каталог
Атомно-силовая микроскопия
Изложены физические основы атомно-силовой микроскопии. Рассмотрены режимы работы атомно-силового микроскопа. Дано описание отдельных узлов атомно-силового микроскопа. Проанализированы технические возможности, особенности конструкции и требования к образцам зондовых микроскопов СММ-2000 и «НаноСкан».
Для студентов, обучающихся по специальности «Материаловедение в машиностроении», а также для студентов, специализирующихся в области разработки нанотехнологий, наноструктурированных материалов и прецизионной оценки состояния поверхности
Карпухин С.Д. Атомно-силовая микроскопия / С.Д. Карпухин, Ю.А. Быков. - Москва : МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2012. - 38 с. - ISBN baum_106_11. - URL: http://new.ibooks.ru/bookshelf/343507/reading (дата обращения: 19.04.2024). - Текст: электронный.